離子遷移（CAF）測試系統

華測儀器離子遷移（CAF）測試系統

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離子遷移（CAF）測試系統由華測儀器生產，是用于捕捉高溫、高濕、電場等復雜環境下，材料及元器件因離子遷移引發的絕緣電阻劣化過程，準確判斷失效風險，為產品研發、質控及失效分析等提供科學數據支撐，普遍適配電子、汽車、新能源等多行業高可靠性產品的測試需求。

技術參數

測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測試通道:128通道（可定制至高960通道）

測試時長:可連續運行1500小時

測試溫度:85℃（可定制）

測試濕度:85%（可定制）

測量范圍:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

 產品優勢

安全與穩定性強：具備緊急停止、過溫切斷加熱斷路器等保護功能，配備防反水加濕水路系統與二級加濕用水過濾保護，既保障操作安全，又延長設備使用壽命；部分型號可選購觀察窗隱私功能，保護試件隱私。

可定制適配性：支持測試參數、通道數量、環境模擬條件等按需定制，可適配標準樣材、異形件（夾取方式）測試，兼容行業標準，滿足不同行業、不同產品的個性化測試需求。