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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀

      參考價(jià) 400000
      訂貨量 ≥1
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱北京華測試驗(yàn)儀器有限公司
      • 品       牌華測
      • 型       號HC-RD-1100
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
      • 更新時(shí)間2026/3/10 17:35:34
      • 訪問次數(shù)15
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                    北京華測試驗(yàn)儀器有限公司( 簡稱: 華測儀器) 為高新技術(shù)企業(yè),專注于絕緣材料與先進(jìn)功能新材料電性能檢測以及材料電學(xué)測控設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),目前公司產(chǎn)品已應(yīng)用于全國二十多個(gè)省、市、自治區(qū)。
          公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個(gè)電學(xué)試驗(yàn)室;涉及材料測試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評價(jià)等相關(guān)儀器。
          產(chǎn)品系列:功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。







      先進(jìn)功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。
      華測儀器HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性、多功能集成等特點(diǎn),主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
      半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀 產(chǎn)品信息

      HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀

      價(jià)格僅供參考,如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例,歡迎致電我司技術(shù)工程師


      HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀由華測儀器生產(chǎn),是一款簡單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。


      產(chǎn)品優(yōu)勢

      1. 靈活兼容性與操作便捷性

      支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣;

      可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測量誤差;

      電極材料可選鎳(-100~500℃)或鉑(-100~1500℃),靈活應(yīng)對不同溫區(qū)與材料特性。

      2. 高穩(wěn)定性與長周期測試能力

      電源輸出 0~1A,具備長期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長時(shí)間數(shù)據(jù)采集;

      配備K/S/C型熱電偶,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。


      產(chǎn)品參數(shù)

      01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃

      02.測量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

      03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

      04.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm

      05.塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%

      06.電導(dǎo)率測量范圍:0.01~2*105s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%


      半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀



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