HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀
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HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀由華測儀器生產(chǎn),是一款簡單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣;
可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測量誤差;
電極材料可選鎳(-100~500℃)或鉑(-100~1500℃),靈活應(yīng)對不同溫區(qū)與材料特性。
2. 高穩(wěn)定性與長周期測試能力
電源輸出 0~1A,具備長期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長時(shí)間數(shù)據(jù)采集;
配備K/S/C型熱電偶,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。
產(chǎn)品參數(shù)
01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃
02.測量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm
05.塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%
06.電導(dǎo)率測量范圍:0.01~2*105s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%

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