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HC-RD-1100塞貝克系數電阻熱電性能測試儀
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HC-RD-1100塞貝克系數電阻熱電性能測試儀由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
產品優勢
1、提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估
2、電源輸出 0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集
3、靈活兼容性與操作便捷性
產品參數
溫度范圍：RT~800/1100/1200℃
測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結構夾于兩電極之間
樣品尺寸(圓柱形或棱柱形)：2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm
樣品尺寸(圓盤狀)：10、12.7、25.4 mm
可調探頭距離：4、6、8mm
塞貝克系數測量范圍：1~ 2500uV/K、準確度±7%、重復性±3%
電導率測量范圍：0.01~2*105s/cm、準確度±5-8%、再現性±3%
電源：0~ 1A，具有長期穩定性
電極材料：鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
熱電偶：K/S/C型
