高加速老化試驗箱

高加速老化試驗箱廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統之恒溫恒濕設備85/85%R.H.試驗時,可以節省大量時間, 當測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質量檢驗上大量節省電力, 人力, 物力, 提升產品競爭力.有多種型號可選擇。

設備特點

精確控制：

采用微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器，分辨率高，控制穩定。

溫度控制精度可達±0.5℃，濕度為飽和蒸氣。

壓力范圍廣泛，可滿足不同測試需求。

高加速老化試驗箱性能

 1.1 設定溫度:  +100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

      1.2 濕度范圍:  75~飽和   蒸氣濕度
      1.3濕度控制穩定度：±3%RH

      1.3 使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

      1.4 時間范圍: 0 Hr ～ 999 Hr

      1.5 加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

      1.6 溫度波動均勻度 : ±0.5℃

      1.7 溫度顯示精度：0.1℃

      1.8 壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

      1.9 濕度分布均度：±3%RH

安全保護：

       a.進口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結構，保證壓力無泄露。

     b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，在上保證用戶

       的使用和安全。

     c.反壓門鎖裝置，在試驗室內部有壓力時，試驗箱門無法打開.