微機繼電保護測試儀測試時df/dt值。在此測試單元里頻率總是按所設置的df/dt變化,因此設置df/dt時,應保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。
低電壓閉鎖
該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點。
電壓測試范圍
測試時電壓在此范圍內逐點進行試探測試,每輪測試時頻率變化,但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加,至某一值時裝置解除閉鎖正確動作,則該值即為低電壓閉鎖邊界值。
由于裝置在電壓小于閉鎖值時處于閉鎖狀態,故一般變化始值應設置為小于裝置整定的閉鎖值,變化終值應設置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作到動作,從而測出裝置的低電壓閉鎖值。
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電壓測試范圍
測試時電壓在此范圍內逐點進行試探測試,每輪測試時頻率變化,但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加,至某一值時裝置解除閉鎖正確動作,則該值即為低電壓閉鎖邊界值。
由于裝置在電壓小于閉鎖值時處于閉鎖狀態,故一般變化始值應設置為小于裝置整定的閉鎖值,變化終值應設置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作到動作,從而測出裝置的低電壓閉鎖值。
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2026 IICIE國際集成電路創新博覽會(IC創新博覽會)
展會城市:深圳市展會時間:2026-09-09