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石家莊璟索電子有限公司
| 量程 | 0-300mm |
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一、測厚原理及分類
用來測量材料及物體厚度的儀表統稱為測厚儀。按照測量原理不同,可以分為以下幾類:
1.超聲波測厚儀:根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量。當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的材料均可采用此原理測量。
























1. 超聲波測厚原理和分類:
利用超聲波在介質中的脈沖反射對物體進行厚度測試的儀器稱為超聲測厚儀。
超聲波測厚是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的。當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
超聲波測厚探頭分為單晶探頭和雙晶探頭,單晶探頭是發射和接收采用同一個晶片,雙晶探頭是發射和接收分別采用一個晶片,單晶探頭一般探測較厚的工件,雙晶探頭則探測較薄的工件。
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