Epsilon 3X_Panalytica X射線熒光光譜儀

Epsilon 3X_Panalytica X射線熒光光譜儀

品牌簡(jiǎn)介：

帕納科是X射線熒光光譜分析儀器及軟件的主要供應(yīng)商之一。分析儀器主要應(yīng)用于科學(xué)的研究和發(fā)展、工業(yè)過(guò)程控制以及半導(dǎo)體材料的物性測(cè)量領(lǐng)域。可為客戶(hù)提供量身定制的無(wú)損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產(chǎn)品，例如石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

Epsilon 3X 儀器為臺(tái)式能量色散型X 射線熒光(EDXRF) 光譜儀，它采用了激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)的新成果。該儀器運(yùn)行穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便，對(duì)整個(gè)元素周期表中的元素均具備的分析性能。

Epsilon 3X 光譜儀依靠各種軟件模塊（用于處理*的無(wú)標(biāo)分析Omnian 、石油分析Oil-Trace 、快速進(jìn)行指紋識(shí)別FingerPrint 、多層分析Stratos和符合法規(guī)要求）增強(qiáng)其功能，是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合。

Epsilon 3X 和Epsilon3XLE 版本

• 通過(guò)智能激發(fā)和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度

• 市場(chǎng)*的輕元素性能

• 確保X 射線安全

• *的數(shù)據(jù)可追溯性

• 符合法規(guī)

• 無(wú)需人為干預(yù)的批量分析

• 在線支持

• 高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合：

- Epsilon 3X – 用于從研發(fā)到過(guò)程控制的各個(gè)領(lǐng)域的元素分析(Na - Am)

- Epsilon 3XLE – 具有改進(jìn)的和擴(kuò)展的輕元素功能(C – Am)，用于實(shí)現(xiàn)更高的樣品生產(chǎn)量

Epsilon 3X_Panalytica X射線熒光光譜儀可以處理類(lèi)型廣泛的樣品，包括固體、稀松或壓片粉末、液體和濾片，重量從幾毫克到更大的實(shí)體樣品不等。